imsc-faviconfacebookrss

header a position

Авторизация

header-picture
Первый Президент РК
president

«... Наука должна работать на то, чтобы повышать производительность труда, в этом и заключаются инновации. В мире новые технологии внедряются стремительными темпами, и мы не должны отставать …»

Из выступления Президента РК Н.А. Назарбаева на встрече с представителями общественности и предпринимателями Восточно-Казахстанской области. 24.06.2014 г.

Информация о сайте

Здесь вы сможете узнать о персонале Международного Центра Материаловедения

Новости

Все последние новости, а так же архив новостей

RSS лента новостей

Подписка RSS. Будьте в курсе. RSS лента позволяет видеть все новости

Наш журнал

Журнал Международного Материаловедения

Есть вопросы

Есть вопросы? В этом разделе вы можете задать интересующий вас вопрос, выразить благодарность или оставить пожелание

Растровый электронный микроскоп с микрозондом для микрорентгеноспектрального анализа Tescan Vega

Категория: Оборудование ИЛИП

Аналитический комплекс предназначен для исследования структуры поверхности материалов в диапазоне увеличений 4× – 500 000×, получения объемного изображения структуры шлифов и исследования изломов металлов и сплавов, определения размеров частиц, определения причин разрушения материалов, прогнозирования прочностных и эксплуатационных характеристик различных материалов.

Технические характеристики:

  • Разрешение 3.0нм (при 30кВ);
  • Увеличение от 12х до 1000000х;
  • Диаметр камеры образцов 230мм
Спросить о данном продукте